Rasterkraftmikroskopie (AFM)Mit Hilfe der Rasterkraftmikroskopie (AFM) können die Topographie und die mechanischen Eigenschaften einer Probenoberfläche untersucht werden. Die Messsonde eines AFMs ist typischerweise eine mikroskopische, sehr scharfe Spitze, die auf einem Federbalken befestigt ist. Die Auslenkung des Federbalkens, die durch die Interaktion zwischen der Spitze und der Probenoberfläche verursacht wird, kann mittels eines Lasers und einer Photodiode gemessen werden. Dadurch können mit dem AFM sowohl die Topographie einer Probe im Nanometer-Bereich (sub-nm in z-Richtung) als auch Eigenschaften wie Adhäsion, E-Modul oder Reibung gemessen werden. Ein AFM kann in unterschiedlichen Umgebungen verwendet werden (u.a. in Flüssigkeit) und eignet sich dadurch hervorragend zur Untersuchung biologischer Systeme. In unserer Gruppe werden die folgenden Rasterkraftmikroskope verwendet:
| |
UltrahochvakuumanlageDie Röntgenphotoelektronenspektroskopie ist ein experimentelles Standardwerkzeug für die Oberflächenanalyse. Sie bietet eine äußerst hohe Oberflächensensitivität, d.h. aufgrund der sehr kurzen freien Weglängen von Elektronen mit kinetischen Energien im Bereich von 10-2000 eV (typischerweise 1-2 nm) werden nur die obersten Atomlagen einer Probe detektiert. Photoelektronen werden hinsichtlich ihrer Verteilung der kinetischen Energie (als Maß ihrer Bindungsenergie) und ihrer Impulsverteilung (z.B. in Abhängigkeit von den Kristallachsen der Probe) untersucht. In unserer Gruppe verwenden wir ein
| |
Optische MikroskopieOptische Mikroskope nutzen Linsensysteme um Strukturen vergrößert darzustellen. Standardmikroskope sind dabei in ihrer Auflösung auf die Wellenlänge des sichtbaren Lichts, also einige 100 nm, begrenzt. Wir nutzen Lichtmikroskope zum Beispiel zur Beobachtung der Entnetzung dünner Filme oder zur Untersuchung des Verhaltens von Proteinschichten und -vesikeln. Je nach Einsatzzweck verwenden wir verschiedene Mikroskope, vorrangig jedoch die Modelle
|