Ausstattung

Rasterkraftmikroskopie
(AFM)
Spektrskopische Ellipsometrie

 

Optische
Mikroskopie

 

  Plasmonenresonanz-
spektroskopie

Abbildende Ellipsometrie    Kontaktwinkelanalyse

Ultra High Vacuum Lab

  

Scanning Tunneling Microscopy