Rasterkraftmikroskopie


Digital Instruments MultiMode Scanning Probe Microscope:


Betriebsmodi:
  • Contact Mode
  • Tapping Mode
  • Force Distance Mode
  • Force Modulation Mode
  • Phase Imaging
  • Magnetic Force Microscopy

Zubehör/Optionen:
  • Optisches Mikroskop zur vertikalen optischen Beobachtung von Spitze und Probenoberfläche
  • Hochtemperaturheizer für Messungen bis zu 250°C
  • Spezieller Spitzenhalter ermöglicht Hochgeschwindigkeitsaufnahmen (bis zu 10x schnellere Abbildung)
  • Flüssigkeitszelle zum Messen in flüssiger Umgebung

Digital Instruments Dimension 3100 Scanning Probe Microscope:


Betriebsmodi:
  • Contact Mode
  • Tapping Mode
  • Force Distance Mode
  • Force Modulation Mode
  • Phase Imaging

Zubehör/Optionen
  • Computergesteuerte X/Y Plattform geeignet für Proben bis zu einem Durchmesser von 200 mm
  • Dämpfungshaube zur Isolation akkustischer und mechanischer Schwingungen
  • Closed-loop AFM Kopf ermöglicht exaktes Positionieren der Rasterspitze auf Nanometerskala und hohe Linearität der Abbildung ohne 'Kriechen'


Controller:

NanoScope IV Controller mit Quadrex™ und Q-Control Technologie für besseren Phasenkontrast und höhere Empfindlichkeit

 

Phasensignal: die unterschiedlichen Kopolymerblöcke ordnen sich zu Domänen an.

 

3D Ansicht der Topographie


Die AFM Aufnahmen haben eine Bildgröße von 5µm2 und wurden im 'tapping mode' aufgenommen. Die Bilder zeigen den Beginn des Entnetzungsprozesses eines Poly (ethylen/propylen-styrol) Kopolymerfilms. Die Filmdicke beträgt 75nm. In diesem frühen Entnetzungsstadium zeigt der Film ein schichtweises Aufbrechen des Lochs.